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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展2025年3月11-13日,慕尼黑上海光博會(huì)在上海新國際博覽中心圓滿收官。本屆展會(huì)為業(yè)界呈現(xiàn)了一場(chǎng)高層次的科技盛宴。同時(shí),本屆展會(huì)從展示范圍的廣泛度、光電產(chǎn)品的豐富度、趨勢(shì)傳遞的新穎度、交流合作的深入度等方面充分展現(xiàn)了全球化浪潮下,光電行業(yè)正通過技術(shù)創(chuàng)新、國際合作、產(chǎn)業(yè)鏈整合等方式得到快速發(fā)展的態(tài)勢(shì),贏得了行業(yè)企業(yè)和合作伙伴的高度認(rèn)可和贊譽(yù)。精彩盛況展會(huì)風(fēng)采展會(huì)期間人頭攢動(dòng),頤光科技作為光學(xué)薄膜及納米結(jié)構(gòu)測(cè)量解決方案提供商,本次展會(huì)攜核心技術(shù)產(chǎn)品光譜橢偏儀、反射膜厚儀及光學(xué)膜...
查看詳情慕尼黑上海光博會(huì)將于2025年3月11-13日在上海新國際博覽中心盛大召開。2025年正值慕尼黑上海光博會(huì)20周年,作為亞洲激光、光學(xué)、光電行業(yè)的年度盛會(huì),本屆展會(huì)以“躬耕不輟,智啟新程”為主題,超過1400家展商將齊聚申城,共同探索光電產(chǎn)業(yè)的未來發(fā)展方向。展會(huì)邀請(qǐng)函頤光科技將攜核心技術(shù)產(chǎn)品和解決方案參展,我們誠摯邀請(qǐng)各位新老朋友蒞臨頤光展臺(tái),希望通過此次機(jī)會(huì)與業(yè)內(nèi)同仁、專家們共同交流探討、共商合作、互利發(fā)展。展館平面圖頤光科技展位:E7館7472產(chǎn)品介紹關(guān)于我們武漢頤光科技...
查看詳情在材料科學(xué)與半導(dǎo)體領(lǐng)域不斷探索創(chuàng)新的征程中,橢圓偏光儀憑借其光學(xué)測(cè)量原理,正發(fā)揮著不可替代的關(guān)鍵作用,為這些領(lǐng)域帶來諸多創(chuàng)新應(yīng)用。1、在材料科學(xué)領(lǐng)域,橢圓偏光儀成為研究材料微觀結(jié)構(gòu)與光學(xué)性質(zhì)的得力助手。對(duì)于新型納米材料,它能精確測(cè)量材料的厚度、折射率等參數(shù)。比如在二維納米材料研究中,通過偏光儀可以無損且高精度地確定石墨烯等材料的層數(shù)。由于不同層數(shù)的石墨烯光學(xué)性質(zhì)存在細(xì)微差異,偏光儀能夠敏銳捕捉這些變化,為材料的制備與性能優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。2、在材料表面和界面研究方面,偏光...
查看詳情紅外橢偏儀是一種高度精密的光學(xué)分析儀器,主要功能是在紅外光譜范圍內(nèi)對(duì)材料進(jìn)行無損表征。它通過測(cè)量材料對(duì)紅外光的反射或透射過程中偏振狀態(tài)的變化,從而推斷出樣品的諸多物理屬性,如介電常數(shù)、光學(xué)性質(zhì)、薄膜厚度等。作為一種先進(jìn)的光學(xué)測(cè)量工具,紅外橢偏儀能夠以非破壞性的方式獲取材料的多種物理性質(zhì)。具體而言,它可以精確測(cè)量如下幾類關(guān)鍵物理量:1、光學(xué)常數(shù):包括復(fù)折射率(實(shí)部n與虛部k)、吸收系數(shù)α。這些參數(shù)對(duì)于理解和預(yù)測(cè)材料的電磁行為至關(guān)重要,如色散關(guān)系、反射率、透射率等。2、薄膜厚度:...
查看詳情光譜橢偏儀(SE)是一種高精度的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,廣泛應(yīng)用于薄膜材料的表征與質(zhì)量控制。通過測(cè)量反射光的偏振變化,光譜橢偏儀能夠提供薄膜的厚度、折射率、消光系數(shù)等重要參數(shù),進(jìn)而評(píng)估薄膜的光學(xué)性質(zhì)、表面質(zhì)量以及結(jié)構(gòu)特征。近年來,隨著薄膜技術(shù)的進(jìn)步,橢偏儀在薄膜質(zhì)量控制中的應(yīng)用取得了顯著的創(chuàng)新性進(jìn)展。1、薄膜厚度與光學(xué)常數(shù)的精準(zhǔn)測(cè)量橢偏儀常見的應(yīng)用是薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)的測(cè)量。在薄膜的生產(chǎn)過程中,厚度控制對(duì)于其性能至關(guān)重要。例如,在半導(dǎo)體制造中,薄膜的厚度直接影響器件的電學(xué)性能和可靠性。...
查看詳情在薄膜制造和涂層工藝中,精確控制薄膜厚度對(duì)于產(chǎn)品的質(zhì)量和性能至關(guān)重要。光學(xué)膜厚傳感器作為一種先進(jìn)的非接觸式測(cè)量工具,憑借其高精度、實(shí)時(shí)反饋和適用范圍廣的特點(diǎn),在半導(dǎo)體、顯示器、太陽能電池、光學(xué)器件等多個(gè)高科技領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。選擇正確的光學(xué)膜厚傳感器對(duì)于確保測(cè)量的準(zhǔn)確性、效率以及適應(yīng)具體的工業(yè)應(yīng)用至關(guān)重要。以下是幾個(gè)關(guān)鍵因素,它們會(huì)指導(dǎo)您在各種選項(xiàng)中做出合適的選擇:1、測(cè)量對(duì)象特性首先,考慮您的測(cè)量目標(biāo)——即薄膜本身的特點(diǎn)。這包括但不限于:-材料屬性:薄膜是由哪種材料制成的...
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